eng rus Контактная информация

High Pressure RHEED

Уникальная система измерения дифракции быстрых электронов на отражение при высоком давлении в камере (до 0, 5 мбар!) Позволяет в процессе напыления контролировать толщину и качество получаемой тонкопленочной структуры.

>>  Подробнее о дифрактометрах высокого давления на сайте SURFACE (ENG)